薄膜膜厚組成X線密度測定裝置

薄膜膜厚組成X線密度測定裝置

膜厚測量、密度測量、組成比測量等可以使用X射線進行測量。
可以根據測量用途選擇相應的X射線單元。
在大氣中進行測量，裝置尺寸約為1m2，具有維護性和成本性能高的
產品。膜厚測量、密度測量、組成比測量等可以使用X射線進行測量。
可以根據測量用途選擇相應的X射線單元。
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可以根據測量用途選擇相應的X射線單元。
在大氣中進行測量，裝置尺寸約為1m2，具有維護性和成本性能高的
產品。