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產品資料
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日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計

產品名稱: 日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計
產品型號: TCR-600
產品特點: 日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計
在室溫至醉高600℃的范圍內調節溫度,并自動逐步測量電阻。
?包括真空控制,惰性氣體替換控制,加熱臺,水冷式冷卻器,測量單元溫度計,氣體流量計,真空計等。
?如果支持醉高120℃,則可以將其定制為半自動機器(面內多點測量/映射測量)。

日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計 的詳細介紹

日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計

 

產品特點

?在室溫至醉高600℃的范圍內調節溫度,并自動逐步測量電阻。

?包括真空控制,惰性氣體替換控制,加熱臺,水冷式冷卻器,測量單元溫度計,氣體流量計,真空計等。

?如果支持醉高120℃,則可以將其定制為半自動機器(面內多點測量/映射測量)。

測量規格

測量目標

  • 與半導體/太陽能電池相關的材料(硅,多晶硅,SiC等)
  • 導電薄膜相關(金屬,ITO等)
  • 其他(*請與我們聯系)

測量尺寸

φ10mm或5X10mm?35X35mm 
[*樣品室中的樣品大小。其他尺寸請聯系我們]

測量范圍

[電阻(比電阻)]10μ-100kΩ? cm

產品特點

?在室溫至醉高600℃的范圍內調節溫度,并自動逐步測量電阻。

?包括真空控制,惰性氣體替換控制,加熱臺,水冷式冷卻器,測量單元溫度計,氣體流量計,真空計等。

?如果支持醉高120℃,則可以將其定制為半自動機器(面內多點測量/映射測量)。

測量規格

測量目標

  • 與半導體/太陽能電池相關的材料(硅,多晶硅,SiC等)
  • 導電薄膜相關(金屬,ITO等)
  • 其他(*請與我們聯系)

測量尺寸

φ10mm或5X10mm?35X35mm 
[*樣品室中的樣品大小。其他尺寸請聯系我們]

測量范圍

[電阻(比電阻)]10μ-100kΩ? cm

日本napson溫度控制兼容高溫4探頭電阻計

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